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          服務(wù)熱線

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          德國EPK MiniTest1100涂鍍層測厚儀

          型號(hào):

          產(chǎn)品時(shí)間:2025-08-26

          簡要描述:

          德國EPK(Elektrophysik)公司
          德國EPK MiniTest1100涂鍍層測厚儀
          德國EPK涂鍍層測厚儀特點(diǎn):
            MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
            所有型號(hào)均可配所有探頭;
            可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);
            可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

          詳細(xì)介紹
          品牌ElektroPhysik/德國EPK價(jià)格區(qū)間1萬-2萬
          產(chǎn)地類別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域化工,石油,航空航天,汽車及零部件,綜合

          德國EPK

          德國ElektroPhysik(簡稱EPK)公司是一家專門生產(chǎn)測厚儀的專業(yè)公司,自1954年以來一直致力于測厚類產(chǎn)品的開發(fā)和研究工作,是世界上生產(chǎn)測厚類產(chǎn)品的公司之一。

          半個(gè)多世紀(jì)以來,EPK公司作為測厚領(lǐng)域的公司,在這個(gè)領(lǐng)域取得很高的聲譽(yù),有著不可替代的地位。EPK產(chǎn)品包括:MikroTest麥考特系列機(jī)械型涂鍍層測厚儀,MiniTest 70系列口袋式便攜式涂鍍層測厚儀,MiniTest 700系列創(chuàng)新型SIDSP涂鍍層測厚儀,MiniTest 1100-2100-3100-4100系列/MiniTest 7400高精度涂鍍層測厚儀,MiniTest 600系列電子型涂鍍層測厚儀,QUINTSONIC超聲波涂層測厚儀,GALVANOTEST庫侖鍍層測厚儀,MiniTest 7200/7400 FH壁厚測厚儀,MiniTest 400系列超聲波測厚儀,CTM-S連續(xù)厚度測量系統(tǒng),StratoTest 4100路面測厚儀,StratoTest 4100 C爐壁測厚儀,PoroTest 7涂層針孔檢測儀等。

          德國EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100技術(shù)特征:

          型號(hào)1100210031004100
          MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
          應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))111099
          每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,并可設(shè)寬容度極限值) 1 500
          可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) 1  
          數(shù)據(jù)總量 100001000010000
          MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
          讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar 
          讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk  
          組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar  
          組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk  
          存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)   
          分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值  
          顯示并打印測量值、打印的日期和時(shí)間 
          其他功能
          設(shè)置極限值  
          連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識(shí)別Z大Z小值  
          連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)  
          連續(xù)測量模式中顯示Z小值  

           德國EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數(shù):

            所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇Z適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的
          形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
            F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
            N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
            FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

           

          探頭

          量程

          低端
          分辨率

          誤差

          Z小曲率半徑
          (凸/凹)

          Z小測量
          區(qū)域直徑

          Z小基
          體厚度

          探頭尺寸



          應(yīng)

          F05

          0-500μm

          0.1μm

          ±(1%±0.7μm)

          1/5mm

          3mm

          0.2mm

          φ15x62mm

          F1.6

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          1.5/10mm

          5mm

          0.5mm

          φ15x62mm

          F1.6/90

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          平面/6mm

          5mm

          0.5mm

          φ8x8x170mm

          F2/90

          0-2000μm

          0.2μm

          ±(1%±1μm)

          平面/6mm

          5mm

          0.5mm

          φ8x8x170mm

          F3

          0-3000μm

          0.2μm

          ±(1%±1μm)

          1.5/10mm

          5mm

          0.5mm

          φ15x62mm

          F10

          0-10mm

          5μm

          ±(1%±10μm)

          5/16mm

          20mm

          1mm

          φ25x46mm

          F20

          0-20mm

          10μm

          ±(1%±10μm)

          10/30mm

          40mm

          2mm

          φ40x66mm

          F50

          0-50mm

          10μm

          ±(3%±50μm)

          50/200mm

          300mm

          2mm

          φ45x70mm


          FN1.6

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          1.5/10mm

          5mm

          F0.5mm/N50μm

          φ15x62mm

          FN1.6P

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          平面

          30mm

          F0.5mm/N50μm

          φ21x89mm

          FN2

          0-2000μm

          0.2μm

          ±(1%±1μm)

          1.5/10mm

          5mm

          F0.5mm/N50μm

          φ15x62mm




          N02

          0-200μm

          0.1μm

          ±(1%±0.5μm)

          1/10mm

          2mm

          50μm

          φ16x70mm

          N.08Cr

          0-80μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          2.5mm

          2mm

          100μm

          φ15x62mm

          N1.6

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          1.5/10mm

          2mm

          50μm

          φ15x62mm

          N1.6/90

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          平面/10mm

          5mm

          50μm

          φ13x13x170mm

          N2

          0-2000μm

          0.2μm

          ±(1%±1μm)

          1.5/10mm

          5mm

          50μm

          φ15x62mm

          N2/90

          0-2000μm

          0.2μm

          ±(1%±1μm)

          平面/10mm

          5mm

          50μm

          φ13x13x170mm

          N10

          0-10mm

          10μm

          ±(1%±25μm)

          25/100mm

          50mm

          50μm

          φ60x50mm

          N20

          0-20mm

          10μm

          ±(1%±50μm)

          25/100mm

          70mm

          50μm

          φ65x75mm

          N100

          0-100mm

          100μm

          ±(1%±0.3mm)

          100mm/平面

          200mm

          50μm

          φ126x155mm

          CN02

          10-200μm

          0.2μm

          ±(1%±1μm)

          平面

          7mm

          無限制

          φ17x80mm

               F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。

            N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
            CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

          德國EPK涂鍍層測厚儀MiniTest 1100/2100/3100/4100探頭

          FN1.6
          0~1600μm,φ5mm
          兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
          量程低端分辨率很高(O.1μm)
          FN1.6P
          0~1600μm,φ30mm
          兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度
          FN2
          0~2000μm,φ5mm
          兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
          F05
          0~500μm,φ3mm
          磁性測頭,適于測量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
          量程低端分辨宰很高(O.1μm)
          F1.6
          0~1600μm,φ5mm
          磁性測頭
          量程低端分辨率很高(O.1μm)
          F3
          0~3000μm,φ5mm
          磁性測頭
          可用于較厚的覆層
           F1.6/90
          0~1600μm,φ5mm
          90度磁性測頭
          尤其適合于在管內(nèi)壁測量
          量程低端分辨率很高(O.1μm)
           F2/90
          0~2000μm,φ5mm
          90度磁性測頭
          尤其適合于在管內(nèi)壁測量
           F10
          0~10mm,φ20mm
          適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,
          如玻璃、塑膠、混凝土等
           F20
          0~20mm,φ40mm
          適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,
          如玻璃、塑膠、混凝土等
           F50
          0~50mm,φ300mm
          適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
           N02
          0~200μm,φ2mm
          非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
          量程低端分辨率很高(O.1μm)
           N0.8Cr
          0~80μm,φ2mm
          適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
           N1.6
          0~1600μm,φ2mm
          非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
          量程低端分辨率很高(O.1μm)
           N2
          0~2000μm,φ5mm
          非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
           N1.6/90
          0~1600μm,φ5mm
          磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
          尤其適合在管內(nèi)壁測量
          量程低端分辨率很高(O.1μm)
           N2/90
          0~2000μm,φ5mm
          磁性測頭, 尤其適合在管內(nèi)壁測量
           N10
          0~10mm,φ50mm
          非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
           N20
          0~20mm,φ70mm
          非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
           N100
          0~100mm,200mm
          非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
           CN02
          10~200μm,φ7mm
          用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

           


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